KS D ISO 19318:2005
表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告

規格番号
KS D ISO 19318:2005
制定年
2005
出版団体
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
状態
 2020-01
に置き換えられる
KS D ISO 19318-2020
最新版
KS D ISO 19318-2020
範囲
この規格はX線光電子分光法(分析結果とともに報告しなければならない)で試料を絶縁するために

KS D ISO 19318:2005 発売履歴

  • 2020 KS D ISO 19318-2020 表面化学分析-X線光電子分光法-帯電制御・帯電補正方法の報告
  • 2005 KS D ISO 19318:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告



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