KS D 0257-2002
光伝導減衰測定法を用いたシリコン単結晶の少数キャリア寿命の求め方

規格番号

KS D 0257-2002

制定年

2002

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

KS D 0257-2002(2017)

最新版

KS D 0257-2022

交換する

KS D 0257-1999

範囲

この規格は、シリコン単結晶中の少数キャリアのバルク再結合寿命（以下、バルク寿命またはtB

KS D 0257-2002 発売履歴

• 2022 KS D 0257-2022 光伝導減衰法によるシリコン単結晶中の少数キャリア寿命の測定
• 0000 KS D 0257-2002(2017)
• 2002 KS D 0257-2002 光伝導減衰測定法を用いたシリコン単結晶の少数キャリア寿命の求め方
• 0000 KS D 0257-1999