ASTM E2926-13
マイクロビーム蛍光X線（マイクロビームXRF）分光法を使用したガラスの識別および比較のための標準的な試験方法
- 規格番号
- ASTM E2926-13
- 制定年
- 2013
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM E2926-17
- 最新版
- ASTM E2926-17
- 範囲
- 4.1&# &#µ ——XRF は、法医学事件で頻繁に検査されるような小さなガラス片の主要元素、微量元素、微量元素成分を同時に検出する手段を提供します。 完全に非破壊的な性質があるため、サンプルの形状や RI などのサンプルの特性の変化を気にすることなく、分析スキームのどの時点でも使用できます。 4.2 検出限界 (LOD) は、機器の構成と操作パラメーター、サンプルの厚さ、個々の元素の原子番号などのいくつかの要因に依存します。 一般的な LOD の範囲は、100 万分の 1 (&#µgg-1) からパーセント (%) までです。 4.3&# &#µ ——XRF では、原子番号 11 以上の元素を同時に定性分析できます。 この多元素機能により、マグネシウム (Mg)、シリコン (Si)、アルミニウム (Al)、カルシウム (Ca)、カリウム (K)、鉄 (Fe)、チタン (Ti)、ストロンチウム (Sr)、ジルコニウム (Zr)、および XRF によって一部のガラスで検出可能なその他の元素 (モリブデン (Mo)、セレン (Se)、エルビウム (Er など) )) 事前に決定された要素メニューは必要ありません。 ガラス破片の 4.4&# &#µ ——XRF 比較は、RI または密度比較、またはその両方を単独で行う場合を超える追加の識別力を提供します。 4.5 メソッドの精度は、各実験室の特定の条件および機器に応じて、各実験室で確立される必要があります。 4.6 さまざまな表面形状と厚さを持つ小さな破片を使用すると、テイクオフ角度と臨界深さの影響により精度が低下します。 厚さが 1.5 mm を超える平らな破片にはこれらの制約はありませんが、ケースワークで受け取った疑わしい標本として常に入手できるとは限りません。 小さな断片の精度の低下と適切な校正標準の欠如の結果として、XRF による定量分析は通常は使用されません。 4.7 材料の自然な不均質性、表面形状の変化、および潜在的な臨界深度効果を考慮するために、適切なサンプリング技術を使用する必要があります。 4.8&# 誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP-OES) および誘導結合プラズマ質量分析法 (ICP-MS) は、ガラスの微量元素分析にも使用でき、より低い最小検出レベルと能力を提供します。 定量分析用。 ただし、これらの方法は破壊的であり、より大きなサンプルサイズと非常に長いサンプル調製時間を必要とします (試験方法 E2330)。 4.9&# レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析法 (LA-ICP-MS) は、&#µ ——XRF で使用されるものと同等の試料サイズを使用しますが、より優れた LOD、定量的能力、および短い分析時間を提供します。 。 LA-ICP-MS の欠点は、装置のコストが高くつくことと操作が複雑なことです。 4.10&# EDS を使用した走査型電子顕微鏡 (SEM-EDS) も元素分析に使用できますが、ガラス中に微量に存在する原子番号の大きい元素の検出限界が低いため、法医学ガラス源の識別には使用できません。 集中レベル。 ただし、区別できない RI と密度を持つソースを区別できる場合があります。 1.1 この試験方法は、ガラス片に存在する主要元素、微量元素、および微量元素を測定するためのものです。 の元素組成は……
ASTM E2926-13 規範的参照
- ASTM E177 屋外騒音測定を実施するための測定計画策定のための標準ガイド
- ASTM E2330 誘導結合プラズマ質量分析法 (ICP-MS) を使用して、法医学的比較のためにガラスサンプル中の元素濃度を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2926-13 発売履歴
- 2017 ASTM E2926-17 マイクロ X 線蛍光を使用したガラスの法医学的比較のための標準的な検査方法 (
- 2013 ASTM E2926-13 マイクロビーム蛍光X線（マイクロビームXRF）分光法を使用したガラスの識別および比較のための標準的な試験方法
