DS/EN 61587-3:2013
電子機器の機械構造の試験 IEC 60917 および IEC 60297 パート 3: キャビネットおよびサブラックの電磁シールド性能試験

規格番号

DS/EN 61587-3:2013

制定年

2013

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN 61587-3:2013

交換する

DS/EN 61587-3-2007

範囲

IEC 61587 のこの部分では、30 MHz ～ 3 000 MHz の周波数範囲での電磁シールド性能に関する空のキャビネットおよびサブラックのテストを指定しています。 シールド性能の定義には、規定の減衰値が選択されます。

DS/EN 61587-3:2013 発売履歴

• 2013 DS/EN 61587-3:2013 電子機器の機械構造の試験 IEC 60917 および IEC 60297 パート 3: キャビネットおよびサブラックの電磁シールド性能試験
• 2007 DS/EN 61587-3:2007 電子機器の機械構造の試験 IEC 60917 および IEC 60297 パート 3: キャビネット、ラック、およびサブラックの電磁シールド性能の試験