ASTM E1854-13
電子部品の中性子誘発変位損傷試験の一貫性を確保するための標準的な手法
- 規格番号
- ASTM E1854-13
- 制定年
- 2013
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM E1854-19
- 最新版
- ASTM E1854-19
- 範囲
- 4.1&# この実践は主に、高品質の中性子試験を実施するために適切な環境を確立、特定、維持、使用する際の試験参加者をガイドするために書かれました。 その開発の動機は主に、中性子効果試験プロセスにおける不適切な制御により、過去のいくつかの事例で照射仕様の 3 倍以上異なる被ばくが発生したことが挙げられます。 放射線試験環境は通常、電子機器が動作しなければならない環境 (動作環境) とは異なります。 したがって、高品質のテストには、適切な放射線環境を使用するだけでなく、運用環境とは異なる損傷への影響を制御および補償する必要があります。 一般に、テスト目的を達成するために適切なテスト環境を特定する責任は、チームのスポンサー/ユーザー/テスターおよびテスト専門家にあり、可能であれば独立したバリデーターの支援を受けます。 適切な環境の確立と維持に対する責任は施設の運営者/線量測定者および検査専門家にあり、場合によっては独立したバリデーターの支援も必要となります。 照射施設の選択に関する追加のガイダンスは、実践 F1190 に記載されています。 4.2&# この実践では、高品質のテストを確実に成功させるために実行する必要があるタスクを特定します。 必要なタスクがすべて完了し、条件が満たされていることを確認するのは、スポンサーまたはユーザーの全体的な責任です。 他の参加者は、スポンサーまたはユーザーがその決定を行えるように、適切な文書を提供します。 4.3 適切に実施される試験の主な決定要因は次のとおりです。 (1) 放射線試験環境は十分に特徴付けられ、管理され、指定された照射レベルと相関しているものとします。 (2) 電子材料および電子デバイスで生じた損傷は、環境の望ましい指定された構成要素によって引き起こされ、他の適切な施設で再現することができます。 (3) 電子機器が動作しなければならない放射線環境から得られる仕様レベルに対応する損傷は、テスト環境によって生じる損傷から予測できます。 これらの要件が確実に満たされるようにするには、システム開発者、調達者、ユーザー、施設オペレーター、およびテスト担当者が集合的にすべての必須要件を満たし、達成する必要があるタスクと満たさなければならない条件を効果的に相互に伝達する必要があります。 。 電子部品の 1-MeV 等価変位損傷試験に対する中性子線環境の適合性を判断および維持するための基準は、セクション 5 に示されています。 電子部品の中性子変位損傷試験における試験の一貫性に関する必須要件は、セクション 5 に示されています。 追加の背景資料中性子試験に関する規定と、ガンマ線量および線量率の影響に関する重要な考慮事項は、（必須ではない）付録 X1 および付録 X2 に記載されていますが、遵守は必須ではありません。
ASTM E1854-13 規範的参照
- ASTM E1018 トランセクト データ ファイルを評価するための ASTM 標準ガイド、マトリックス E 706 (IIB)
- ASTM E1249 Co-60 線源を使用したシリコン電子デバイスの耐放射線性試験における線量誤差を最小限に抑えるための標準的な手法
- ASTM E1250 シリコン電子デバイスの放射線強度試験用のコバルト 60 放射線源の低エネルギー ガンマ成分の評価に電離箱を使用するための標準試験方法
- ASTM E1297 ニオブ放射線放射化法による高速中性子反応速度の測定試験方法
- ASTM E170 放射線測定と線量測定の標準用語
- ASTM E181 放射性核種検出器の校正および分析のための標準試験方法
- ASTM E1855 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位破壊モニターとして使用するための標準試験方法
- ASTM E2005 標準中性子場および参照中性子場における原子炉線量測定のベンチマーク テストの標準ガイド
- ASTM E2450 中性子・光子混合環境におけるCaF＜inf＞2
- ASTM E261 放射技術を使用した中性子の積分束率、積分束および中性子スペクトルの決定
- ASTM E262 放射性技術による熱中性子反応および積分束速度を決定するための試験方法
- ASTM E263 鉄の放射能を使用して高速中性子反応速度を測定する標準的な試験方法
- ASTM E264 ニッケルの放射能を使用して高速中性子反応速度を測定する標準的な試験方法
- ASTM E265 硫黄-32の放射能を利用した高速中性子束密度と反応速度の測定方法
- ASTM E393 核分裂線量計によって生成されたバリウム 140 を分析して反応速度を決定する試験方法
- ASTM E481 コバルトおよび銀の放射能を使用した中性子積分束速度の決定のための試験方法
- ASTM E482 原子炉容器監視のための中性子伝達法の適用に関する E706 (IID) 標準ガイド
- ASTM E496 放射性技術を使用して中性子発生器の中性子フルエンス率と平均エネルギーを測定するための標準試験方法
- ASTM E523 銅の放射能による高速中性子反応速度を測定するための標準的な試験方法
- ASTM E526 チタン放射能を使用した急速中性子反応速度の測定のための試験方法
- ASTM E666 ガンマ線または X 線吸収線量の計算の標準的な方法
- ASTM E668 電子デバイスの耐放射線性試験における吸収線量を決定するための熱ルミネッセンス線量測定 (TLD) システムの標準的な手法
- ASTM E704 ウラン238の放射能を利用して反応速度を測定する試験方法
- ASTM E705 ネプツニウム 237 の放射能を利用した反応速度の測定方法
- ASTM E720 電子線強度試験における中性子分光法用の中性子放射化箔の選択と適用に関する標準ガイド
- ASTM E721 電子線強度試験用の中性子放射化箔からの中性子分光測定の標準ガイド
- ASTM E722 電子放射線強度試験の等価単一レベル中性子フルエンスを決定するために使用されるエネルギーレベル中性子エネルギーフルエンススペクトルの特性
- ASTM E798 加速器ベースの中性子源の照射に関する標準的な慣行
- ASTM E844 E-706(IIC) 原子炉監視用センサーデバイスの設計と照射に関する標準ガイド
- ASTM E944 原子炉監視における中性子スペクトル調整法の応用
- ASTM F1190 不バイアス電子部品の中性子曝露に関する標準ガイド
- ASTM F980 シリコン半導体デバイスの中性子誘起変位損傷の急速アニール測定ガイド
ASTM E1854-13 発売履歴
- 2019 ASTM E1854-19 電子部品の中性子誘発変位損傷試験の一貫性を確保するための標準的な手法
- 2013 ASTM E1854-13 電子部品の中性子誘発変位損傷試験の一貫性を確保するための標準的な手法
- 2007 ASTM E1854-07 電子部品の中性子誘発変位損傷試験の一貫性を確保するための標準的な手法
- 2005 ASTM E1854-05 電子部品に対する中性子誘発変位損傷の試験の一貫性を確保するための標準的な手法
- 2003 ASTM E1854-03 電子部品に対する中性子誘発変位損傷の試験の一貫性を確保するための標準的な手法
- 1996 ASTM E1854-96 中性子誘発置換損傷に対する電子部品の安全性試験の標準作業手順
