DS/ISO/IEC 10373-6/Amd 2:2013
ID カードのテスト方法パート 6: 近接カード修正 2: 電磁干渉テスト方法
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DS/ISO/IEC 10373-6/Amd 2:2013
規格番号
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd 2:2013
制定年
2013
出版団体
Danish Standards Foundation
状態
入れ替わる
2013-02
に置き換えられる
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd.4:2013
最新版
DS/ISO/IEC 10373-6:2021
範囲
使用可能なスコープがありません
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd 2:2013 発売履歴
2021
DS/ISO/IEC 10373-6:2021
個人識別カードおよびセキュリティ デバイスの「テスト方法」パート 6: 非接触近接物体「修正 1: 動的電力レベル管理」
2020
DS/ISO/IEC 10373-6:2020
個人識別用のカードおよびセキュリティ デバイス「テスト方法」パート 6: 非接触近接物体「修正 2: 調整の強化」
2013
DS/ISO/IEC 10373-6/Cor 1:2013
ID カードのテスト方法パート 6: 近接カード
2013
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd.4:2013
fc/8、fc/4、fc/2 のビット レートと 512 ~ 4096 バイトのフレーム サイズ
2013
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd 2:2013
ID カードのテスト方法パート 6: 近接カード修正 2: 電磁干渉テスト方法
2012
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd 3:2012
ID カードのテスト方法パート 6: 近接カード修正 3: 追加パラメータ、ブロック番号、不一致の AFI、および TR2 の交換
2012
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd 1:2012
ID カードのテスト方法パート 6: 近接カード修正 1: 追加の PICC クラス
2011
DS/ISO/IEC 10373-6:2011
ID カードのテスト方法パート 6: 近接カード
0000
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd. 4:2007
0000
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd. 3:2007
0000
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd. 1:2007
0000
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd 5:2007
0000
DS/ISO/IEC 10373-6/Amd.2:2003
0000
DS/ISO/IEC 10373-6:2002
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