LST EN 62374-1-2011
半導体デバイス パート 1: 金属間化合物層の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験 (IEC 62374-1:2010)
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LST EN 62374-1-2011
規格番号
LST EN 62374-1-2011
制定年
2011
出版団体
Lithuanian Standards Office
最新版
LST EN 62374-1-2011
LST EN 62374-1-2011 発売履歴
2011
LST EN 62374-1-2011
半導体デバイス パート 1: 金属間化合物層の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験 (IEC 62374-1:2010)
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