LST EN 60749-38-2008
半導体デバイスの機械的および気候的テスト方法 パート 38: メモリを備えた半導体デバイスのソフト エラー テスト方法 (IEC 60749-38:2008)

規格番号

LST EN 60749-38-2008

制定年

2008

出版団体

Lithuanian Standards Office

最新版

LST EN 60749-38-2008

LST EN 60749-38-2008 発売履歴

• 2008 LST EN 60749-38-2008 半導体デバイスの機械的および気候的テスト方法 パート 38: メモリを備えた半導体デバイスのソフト エラー テスト方法 (IEC 60749-38:2008)