LST EN 60749-37-2008
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 37: 加速度計を使用した基板レベルの落下試験方法 (IEC 60749-37:2008)

規格番号

LST EN 60749-37-2008

制定年

2008

出版団体

Lithuanian Standards Office

最新版

LST EN 60749-37-2008

LST EN 60749-37-2008 発売履歴

• 2008 LST EN 60749-37-2008 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 37: 加速度計を使用した基板レベルの落下試験方法 (IEC 60749-37:2008)