LST EN 62374-2008
半導体デバイスのゲート絶縁膜の時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験 (IEC 62374:2007)

規格番号

LST EN 62374-2008

制定年

2008

出版団体

Lithuanian Standards Office

最新版

LST EN 62374-2008

LST EN 62374-2008 発売履歴

• 2008 LST EN 62374-2008 半導体デバイスのゲート絶縁膜の時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験 (IEC 62374:2007)