LST EN 60749-12-2003
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 12: 振動、可変周波数 (IEC 60749-12:2002)

規格番号
LST EN 60749-12-2003
制定年
2003
出版団体
Lithuanian Standards Office
最新版
LST EN 60749-12-2003

LST EN 60749-12-2003 発売履歴

  • 2003 LST EN 60749-12-2003 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 12: 振動、可変周波数 (IEC 60749-12:2002)



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