IEC 60404-15:2012
磁性材料 第 15 部：弱磁性材料の比透磁率の求め方

規格番号

IEC 60404-15:2012

制定年

2012

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる 2016-12

に置き換えられる

IEC 60404-15:2016

最新版

IEC 60404-15:2012/AMD1:2016

交換する

IEC 68/442/FDIS:2012

範囲

IEC 60404 のこの部分では、弱い磁性材料 (オーステナイト系ステンレス鋼を含む) の比透磁率を測定するためのソレノイド法、磁気モーメント法、磁気天秤法、透磁率計法が規定されています。 磁気天秤法と透磁率計法はどちらも、試験片の比透磁率の値を決定するために標準物質を使用して校正された比較法です。 これらの各方法の比透磁率の範囲を表 1 に示します。 これらの方法は、5 kA/m ～ 100 kA/m の印加磁場強度に対するものです。 注 1 磁気バランス法で指定された比透磁率の範囲は、一般的な機器に付属するインサートをカバーしています。 これらは、校正された標準物質が存在する値でのみ評価できます。 注 2 比透磁率が 2@ より大きい場合、この標準物質を使用して基準物質を校正することはできません。 この点については、試験報告書に記載されており、磁気天秤を使用して測定された値は表示のみであることが説明されています。 ソレノイド方式は参考方式です。 説明した磁気モーメント法は、主に質量標準の比透磁率の測定に使用されます。 業界で使用されている 2 つのコンパレータ方式について説明します。 これらは、基準法を使用して比透磁率が決定された基準材料を使用して校正できます。 適切な場合には、磁気モーメント法も使用できます。 自己減磁効果による校正値の不確かさを決定する際には、基準物質の寸法を慎重に考慮する必要があります。 自己減磁の補正の詳細については、付録 A を参照してください。

IEC 60404-15:2012 発売履歴

• 2016 IEC 60404-15:2012/AMD1:2016 磁性材料 第15部：弱磁性材料の比透磁率の求め方 修正1
• 2016 IEC 60404-15:2016 磁性材料 – パート 15: 弱い磁性材料の比透磁率の決定方法 (第 1.1 版統合再版)
• 2012 IEC 60404-15:2012 磁性材料 第 15 部：弱磁性材料の比透磁率の求め方