SY/T 5704-2012
地層傾斜角検層ツールのスケール仕様 (英語版)
- 規格番号
- SY/T 5704-2012
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2012
- 出版団体
- Professional Standard - Petroleum
- 状態
- 最新版
- SY/T 5704-2012
- に置き換えられる
- LST EN 62148-2-2011
- 交換する
- SY/T 5704-2004
- 範囲
- この規格は、地層傾斜角検層ツールの校正方法と技術要件を指定します。 この規格は、CSU シリーズの SHDT 層序高解像度傾斜角検層ツール (以下、SHDT と呼びます) および DDQC 高解像度地層傾斜角検層ツール (以下、DDQC と呼びます)、1020 層傾斜角の 5700 シリーズに適用されます。 検層ツール（以下、DDQCという）、1020という）、EXCELL-2000シリーズSED-BWの6アームフォーメーションディップロギングツール（以下、SEDという）のスケール。 他のタイプの地層傾斜角検層ツールのスケールを参考として実装できます。
SY/T 5704-2012 規範的参照
SY/T 5704-2012 発売履歴
- 2012 SY/T 5704-2012 地層傾斜角検層ツールのスケール仕様
- 2004 SY/T 5704-2004 地層浸漬検層ツールのスケール
- 1995 SY/T 5704.2-1995 地層ディップ検層ツールのメンテナンスと校正手順 HDT 地層ディップ検層ツール
SY/T 5704-2012 地層傾斜角検層ツールのスケール仕様 は LST EN 62148-2-2011 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスのパッケージングおよびインターフェースの規格パート 2: SFF 10 ピントランシーバー (IEC 62148-2:2010) に変更されます。
