DS/EN 62374-1/AC:2011
半導体デバイス パート 1: 金属間化合物層の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) テスト
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DS/EN 62374-1/AC:2011
規格番号
DS/EN 62374-1/AC:2011
制定年
2011
出版団体
Danish Standards Foundation
最新版
DS/EN 62374-1/AC:2011
範囲
IEC 62374-1:2010 には、半導体デバイスに適用される金属間層の時間依存絶縁破壊 (TDDB) テストのテスト方法、テスト構造、および寿命推定方法が記載されています。
DS/EN 62374-1/AC:2011 発売履歴
2011
DS/EN 62374-1/AC:2011
半導体デバイス パート 1: 金属間化合物層の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) テスト
2011
DS/EN 62374-1:2011
半導体デバイス パート 1: 金属間化合物層の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) テスト
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