DS/EN 61000-4-25:2002
電磁両立性 (EMC) パート 4-25: 試験および測定技術機器およびシステムの HEMP イミュニティ試験方法
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DS/EN 61000-4-25:2002
規格番号
DS/EN 61000-4-25:2002
制定年
2002
出版団体
Danish Standards Foundation
状態
入れ替わる
2012-07
に置き換えられる
DS/EN 61000-4-25/A1:2012
最新版
DS/EN 61000-4-25/A1:2012
範囲
IEC 61000 のこの部分では、高高度電磁パルス (HEMP) 環境にさらされる電気および電子機器およびシステムのテスト レベルおよび関連するテスト方法について説明します。 テスト レベルの範囲を定義し、テスト手順を確立します。 テスト機器と計装テストのセットアップ、テスト手順、合否基準、およびテスト文書要件の仕様もこの規格によって定義されます。 これらのテストは、HEMP の放射および伝導電磁障害にさらされたときの電気および電子機器の耐性を実証することを目的としています。 放射妨害波イミュニティ試験の仕様は、
DS/EN 61000-4-25:2002 発売履歴
2012
DS/EN 61000-4-25/A1:2012
電磁両立性 (EMC) パート 4-25: 試験および測定技術機器およびシステムの HEMP イミュニティ試験方法
2002
DS/EN 61000-4-25:2002
電磁両立性 (EMC) パート 4-25: 試験および測定技術機器およびシステムの HEMP イミュニティ試験方法
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