DS/EN 61000-4-20:2011
電磁両立性 (EMC) パート 4-20: 試験および測定技術 横電磁 (TEM) 導波路の放射およびイミュニティ試験

規格番号

DS/EN 61000-4-20:2011

制定年

2011

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN 61000-4-20:2011

交換する

DS/EN 61000-4-20-2003 DS/EN 61000-4-20/A1-2007

範囲

IEC 61000 のこの部分は、さまざまなタイプの横電磁 (TEM) 導波管を使用する電気および電子機器のエミッションおよびイミュニティの試験方法に関連しています。 これらのタイプには、開放構造 (ストリップラインや電磁パルス シミュレータなど) と閉鎖構造 (TEM セルなど) が含まれます。 これらの構造は、1 ポート、2 ポート、またはマルチポート TEM 導波路としてさらに分類できます。 周波数範囲は、特定のテスト要件と特定の TEM 導波路のタイプによって異なります。

DS/EN 61000-4-20:2011 発売履歴

• 2011 DS/EN 61000-4-20:2011 電磁両立性 (EMC) パート 4-20: 試験および測定技術 横電磁 (TEM) 導波路の放射およびイミュニティ試験