DS/EN 60749-5:2003
半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第5部：定常温湿度バイアス寿命試験

規格番号

DS/EN 60749-5:2003

制定年

2003

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN 60749-5:2003

範囲

IEC 60749 のこの部分では、湿気の多い環境における非密閉パッケージのソリッドステート デバイスの信頼性を評価する目的で、定常状態の温度および湿度バイアス寿命テストを提供します。

DS/EN 60749-5:2003 発売履歴

• 2003 DS/EN 60749-5:2003 半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第5部：定常温湿度バイアス寿命試験