DS/EN 60747-5-3/A1:2002
個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法

規格番号

DS/EN 60747-5-3/A1:2002

制定年

2002

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN 60747-5-3/A1:2002

範囲

IEC 60747 のこの部分では、光ファイバー システムまたはサブシステムでの使用を意図していない光電子デバイスに適用できる測定方法について説明します。

DS/EN 60747-5-3/A1:2002 発売履歴

• 2002 DS/EN 60747-5-3/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
• 2002 DS/EN 60747-5-3:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法