DS/EN 60749-23/A1:2011
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命

規格番号

DS/EN 60749-23/A1:2011

制定年

2011

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN 60749-23/A1:2011

範囲

このテストは、バイアス条件と温度がソリッド ステート デバイスに与える影響を経時的に判断するために使用されます。 これは、デバイスの動作状態を高速にシミュレートし、主にデバイスの適格性評価と信頼性の監視に使用されます。

DS/EN 60749-23/A1:2011 発売履歴

• 2011 DS/EN 60749-23/A1:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
• 2004 DS/EN 60749-23:2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命