DS/EN 60749-2:2003
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 2 部: 低気圧

規格番号

DS/EN 60749-2:2003

制定年

2003

出版団体

Danish Standards Foundation

状態

入れ替わる 2003-12

に置き換えられる

DS/EN 60749-2/Corr.1:2004

最新版

DS/EN 60749-2/Corr.1:2004

範囲

IEC 60749 のこの部分では、半導体デバイスの低気圧のテストについて説明します。 この試験は主に、減圧下での空気やその他の絶縁材料の絶縁耐力の低下による電圧破壊故障を回避する構成部品や材料の能力を判断することを目的としています。 このテストは、動作電圧が 1000 V を超えるデバイスにのみ適用されます。

DS/EN 60749-2:2003 発売履歴

• 2004 DS/EN 60749-2/Corr.1:2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 2 部: 低気圧
• 2003 DS/EN 60749-2:2003 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 2 部: 低気圧