DS/EN ISO 3497:2001
X線分光法による金属皮膜の膜厚測定

規格番号

DS/EN ISO 3497:2001

制定年

2001

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN ISO 3497:2001

範囲

この規格は、X 線分光法を使用して金属コーティングの厚さを測定する方法を指定します。

DS/EN ISO 3497:2001 発売履歴

• 2001 DS/EN ISO 3497:2001 X線分光法による金属皮膜の膜厚測定