DS/CEN/TR 16176:2012
蛍光X線分析法を使用して元素組成をスクリーニングする廃棄物の特性評価の現場検証

規格番号

DS/CEN/TR 16176:2012

制定年

2012

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/CEN/TR 16176:2012

範囲

廃棄物の埋め立てに関する EU 指令 99/31/EC および廃棄物の焼却に関する EU 指令 2000/76/EC の枠組みの中で、高速で扱いやすいスクリーニング ツールの必要性が高まっています。 この点において、低コスト、迅速な分析、トラックの積載量の制御、および受け入れの有無の決定が適切な基準となります。 蛍光 X 線 (XRF) 技術は、埋め立て地の現場検証や焼却場の立ち入り規制のためのスクリーニング ツールとして、これらの要件を満たしています。 XRF 技術の最近の発展により、この技術は現場での分析に最適な方法になりました。 つまり、XRF システム (X 線管) の小型化、

DS/CEN/TR 16176:2012 発売履歴

• 2012 DS/CEN/TR 16176:2012 蛍光X線分析法を使用して元素組成をスクリーニングする廃棄物の特性評価の現場検証