DS/EN 15991:2011
セラミックスおよび基礎材料の試験 誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP OES) および電熱蒸発法 (ETV) による、炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定

規格番号

DS/EN 15991:2011

制定年

2011

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN 15991:2011

範囲

この欧州規格は、粉末および粒状の炭化ケイ素中の Al、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Ni、Ti、V、および Zr の微量元素濃度を測定する方法を定義しています。 元素、波長、血漿状態および重量に応じて、この試験方法は、約 0.1 mg/kg から約 1,000 mg/kg までの上記の微量汚染物質の質量含有量に適用でき、評価後は 0,001 mg/kg から約 1,000 mg/kg までの範囲にも適用できます。 5,000 mg/kg。 注 1 一般に、誘導結合プラズマ (ICP OES) および電熱蒸発 (ETV) を使用する発光分光分析では、最大 4 桁の線形動作範囲があります。 この範囲は次のように拡張できます。

DS/EN 15991:2011 発売履歴

• 2011 DS/EN 15991:2011 セラミックスおよび基礎材料の試験 誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP OES) および電熱蒸発法 (ETV) による、炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定