DS/EN 1071-4:2006
高度なテクニカル セラミック セラミック コーティングの試験方法 パート 4: 電子プローブ微量分析 (EPMA) による化学組成の決定

規格番号

DS/EN 1071-4:2006

制定年

2006

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN 1071-4:2006

交換する

DS/ENV 1071-4-1996

範囲

この欧州規格では、走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザーを使用した電子プローブ マイクロ分析 (EPMA) によるセラミック コーティングの化学分析方法について説明しています。 説明されている方法は、分析が行われる場合の単層コーティングの検査に限定されています。 分析はサンプル表面に対して垂直に実行されますが、個々の層またはグラデーションの厚さが、特性 X 線または蛍光 X 線が照射される材料の体積の最大幅よりも大きい場合には、傾斜コーティングおよび多層コーティングも断面で分析できます。 注 この方法は、バルク マーの分析にも使用できます。

DS/EN 1071-4:2006 発売履歴

• 2006 DS/EN 1071-4:2006 高度なテクニカル セラミック セラミック コーティングの試験方法 パート 4: 電子プローブ微量分析 (EPMA) による化学組成の決定