IEC 61326-2-4:2012
測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁両立性の要件 パート 2-4: 詳細要件 IEC 61557-9 に準拠した絶縁不良位置特定装置および IEC 61557- に準拠した絶縁監視装置のテスト構成、動作条件8 および性能基準
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IEC 61326-2-4:2012
規格番号
IEC 61326-2-4:2012
制定年
2012
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
状態
入れ替わる
に置き換えられる
IEC 61326-2-4:2020 RLV
最新版
IEC 61326-2-4:2020 RLV
交換する
IEC 65A/630/FDIS:2012
IEC 61326-2-4:2006
IEC 61326-2-4 Corrigendum 1:2011
範囲
IEC 61236-1@に加えて、IEC 61326のこの部分では、IEC 61557-8に準拠した?C絶縁モニタリング用の機器について、IEC 61326-1よりも詳細なテスト構成@動作条件および性能基準を規定しています。 ?IEC 61557-9 に基づく C 絶縁欠陥の位置。 これは、配電システムに恒久的または半恒久的に接続された絶縁監視装置および絶縁障害位置特定システムに適用されます。
IEC 61326-2-4:2012 発売履歴
0000
IEC 61326-2-4:2020 RLV
2012
IEC 61326-2-4:2012
測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁両立性の要件 パート 2-4: 詳細要件 IEC 61557-9 に準拠した絶縁不良位置特定装置および IEC 61557- に準拠した絶縁監視装置のテスト構成、動作条件8 および性能基準
1970
IEC 61326-2-4:2006/COR1:2011
正誤表 1 - 測定、制御および実験室で使用する電気機器 - EMC 要件 - パート 2-4: 特定の要件 - 絶縁監視装置のテスト構成、動作条件および性能基準。
2006
IEC 61326-2-4:2006
測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性の要件 パート 2-4: 特定の要件 IEC 61557-9 に準拠した絶縁不良位置特定装置および IEC 61557-8 規格に準拠した絶縁監視装置のテスト構成、動作条件および性能
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