NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 23: 高温動作寿命。

規格番号

NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012

制定年

2012

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012

NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 発売履歴

• 2012 NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 23: 高温動作寿命。