JJF 1351-2012
走査型プローブ顕微鏡の校正仕様 (英語版)

規格番号

JJF 1351-2012

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2012

出版団体

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China

最新版

JJF 1351-2012

範囲

この仕様は、幾何学的表面形状を測定対象とする走査型プローブ顕微鏡の校正に適用されます。 走査型プローブ顕微鏡にはさまざまな設計原理があり、校正中に実際の状況に応じて関連する計測特性を選択する必要があります。 高度なトレーサビリティ要件を伴う測定など、特別な要件を伴う測定タスクは、この校正仕様の適用範囲には含まれません。

JJF 1351-2012 規範的参照

• GB/T 19067.1-2003 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面構造プロファイル法測定基準パート 1; 物理測定基準
• JJF 1001-2011 一般的な測定用語と定義

JJF 1351-2012 発売履歴

• 2012 JJF 1351-2012 走査型プローブ顕微鏡の校正仕様
• 1970 JJF 1351-1990 14.8MeV 中性子吸収線量参照動作技術仕様