SJ/T 11433-2012
ベクトルネットワークアナライザの一般仕様 (英語版)
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SJ/T 11433-2012
規格番号
SJ/T 11433-2012
言語
中国語版,
英語で利用可能
制定年
2012
出版団体
Professional Standard - Electron
最新版
SJ/T 11433-2012
範囲
この仕様書は、ベクトルネットワークアナライザの一般的な要件、試験方法、検査規則とマーク、梱包、輸送、保管などを規定します。 この仕様は、合成信号発生器、受信機、S パラメータ テスト ユニットで構成される一般的な 2 テスト ポートのベクトル ネットワーク アナライザに適用できますが、他のタイプのベクトル ネットワーク アナライザもこの仕様を参照できます。
SJ/T 11433-2012 規範的参照
GB 4793.1-1995
測定、制御および実験室で使用する電気機器の安全要件パート 1; 一般要件
GB 4824-2004
産業、科学、医療(ISM)高周波機器の電磁障害特性の制限値と測定方法
GB/T 11463-1989
電子計測器の信頼性試験
GB/T 15464-1995
機器の梱包に関する一般的な技術条件
GB/T 16511-1996
電気および電子測定機器に関するランダムな文書
GB/T 17626.2-1998
電磁適合性試験および測定技術 静電気放電イミュニティ試験
GB/T 17626.3
電磁両立性試験・測定技術 第3部:高周波電磁界放射イミュニティ試験
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2023-12-28 更新するには
GB/T 6587.1-1986
電子計測器の環境試験の概要
GB/T 6587.2-1986
電子測定器温度試験
GB/T 6587.3-1986
電子計測器の湿度試験
GB/T 6587.4-1986
電子計測器の振動試験
GB/T 6587.5-1986
電子計測器の衝撃試験
GB/T 6587.6-1986
電子計測器の輸送試験
GB/T 6587.8-1986
電子測定器の電源周波数および電圧試験
GB/T 6592-1996
電気・電子計測機器の性能表現
GB/T 6593-1996
電子計測器の品質検査規程
SJ/T 11433-2012 発売履歴
2012
SJ/T 11433-2012
ベクトルネットワークアナライザの一般仕様
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