IEC 60512-16-21:2012
電子機器用コネクタ 試験と測定 パート 16-21: 接点および端子の機械的試験 試験 16u: 外部機械的応力の適用に関するウィスカ試験

規格番号

IEC 60512-16-21:2012

制定年

2012

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 60512-16-21:2012

交換する

IEC 48B/2284/FDIS:2012

範囲

範囲と対象 IEC 60512@ のこの部分は、詳細仕様@ で要求されている場合、IEC 技術委員会 48 の範囲内でコネクタをテストするために使用されます。 詳細仕様で指定されている場合は、同様のデバイスにも使用できます。 この規格の目的は、コネクタの使用時（ワイヤ終端後@はんだ付け後@実装後@嵌合後）のコネクタの錫および錫合金めっき部品に対する外部機械的応力によるウィスカ成長の可能性を評価するための標準的な試験方法を定義することです。 相手と）。 この規格は内部応力型ウィスカーを対象としていません。 注1 拡散による金属間化合物の形成@や、めっき表面の酸化皮膜の形成@や熱膨張係数の違いによる内部応力型ウィスカ@を扱う試験方法がIECで規定されています。 60068-2-82。 内部応力タイプのウィスカー@ については、湿熱や温度サイクルなどの加速試験条件を適用することが可能ですが、この規格の対象となる外部機械応力タイプのウィスカー @ は、ウィスカーの生成メカニズムが異なるため、加速条件はありません。 。 この規格に詳述されているテストは、通常の周囲条件下で実施されます。 注 2 適用プロセス中の物理的変化により材料の品質が変化する可能性があるため、この試験は「製造されたままの」状態のコネクタの認定試験としては使用できません。 注 3 この試験で指定された条件は、試験片 @ の錫ウィスカーの成長を促進する可能性がありますが、この試験 @ で発生する可能性のあるウィスカーの成長の程度 @ と予想されるウィスカーの成長の程度との間に相関関係は証明されていません。 実際の使用中。 したがって、実際の使用におけるウィスカの成長は、このテストを使用したときに検出されたウィスカの成長の範囲よりも少ないか、または多い場合があります。

IEC 60512-16-21:2012 発売履歴

• 2012 IEC 60512-16-21:2012 電子機器用コネクタ 試験と測定 パート 16-21: 接点および端子の機械的試験 試験 16u: 外部機械的応力の適用に関するウィスカ試験