IEEE 1500-2005
組み込みチップベースの集積回路のトライアビリティ手法

規格番号

IEEE 1500-2005

制定年

2005

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE 1500-2022

最新版

IEEE 1500-2022

範囲

この規格は、システム オン チップ (SoC) 内のコア設計をテストするためのメカニズムを定義します。 このメカニズムはハードウェア アーキテクチャを構成し、コア テスト言語 (CTL) を活用して、コア設計者とコア インテグレータ間の通信を促進します。

IEEE 1500-2005 発売履歴

• 1970 IEEE 1500-2022 組み込みコアベース集積回路の IEEE 標準テスト容易性手法
• 2005 IEEE 1500-2005 組み込みチップベースの集積回路のトライアビリティ手法