IEEE 1500-2005
組み込みチップベースの集積回路のトライアビリティ手法

規格番号
IEEE 1500-2005
制定年
2005
出版団体
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
状態
に置き換えられる
IEEE 1500-2022
最新版
IEEE 1500-2022
範囲
この規格は、システム オン チップ (SoC) 内のコア設計をテストするためのメカニズムを定義します。 このメカニズムはハードウェア アーキテクチャを構成し、コア テスト言語 (CTL) を活用して、コア設計者とコア インテグレータ間の通信を促進します。

IEEE 1500-2005 発売履歴

  • 1970 IEEE 1500-2022 組み込みコアベース集積回路の IEEE 標準テスト容易性手法
  • 2005 IEEE 1500-2005 組み込みチップベースの集積回路のトライアビリティ手法



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