ASTM E1504-11
二次イオン質量分析法で質量分析データを報告するための標準操作手順
- 規格番号
- ASTM E1504-11
- 制定年
- 2011
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM E1504-11(2019)
- 最新版
- ASTM E1504-11(2019)
- 範囲
- この実践は、他の出版物に記載されている実験およびデータ削減手順を報告する際に使用することを目的としています。 1.1 この実践は、二次イオン質量分析 (SIMS) の取得および報告に使用される機器、実験、およびデータ削減手順を説明するために必要な最小限の情報を提供します。 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM E1504-11 規範的参照
- ASTM E673 表面解析に関する標準用語
ASTM E1504-11 発売履歴
- 2019 ASTM E1504-11(2019) 二次イオン質量分析 (SIMS) で質量分析データを報告するための標準的な方法
- 2011 ASTM E1504-11 二次イオン質量分析法で質量分析データを報告するための標準操作手順
- 2006 ASTM E1504-06 二次イオン質量分析 (SIMS) で質量分析データを報告するための標準的な方法
- 1992 ASTM E1504-92(2001) 二次イオン質量分析 (SIMS) 測定における質量分析データを報告するための標準仕様
- 1992 ASTM E1504-92(1996) 二次イオン質量分析 (SIMS) 測定における質量分析データを報告するための標準仕様
