ISO 13067:2011
マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒径測定

規格番号

ISO 13067:2011

制定年

2011

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ISO 13067:2020

最新版

ISO 13067:2020

範囲

この国際規格は、電子後方散乱回折 (EBSD) を使用して 2 次元の研磨断面から導き出される平均粒径を測定する手順について説明しています。 これには、結晶標本内の位置の関数として、配向、誤配向、パターン品質係数を測定する必要があります[1]。 注 1 光学顕微鏡を使用した粒子サイズ測定の従来の方法は十分に確立されていますが、EBSD 法には、空間分解能の向上や粒子の配向の定量的記述など、これらの技術に比べて多くの利点があります。 この方法は、複雑な材料、たとえば注 2 に重要な二本鎖含有量を持つ材料の粒径の測定にも役立ちます。 注 3 レベルの変形が大きい試験片を調査しようとする場合、結果を慎重に解釈するよう読者に警告します。

ISO 13067:2011 規範的参照

• ISO 16700 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。*， 2016-08-01 更新するには
• ISO 21748 再現性、再現性、および測定不確かさ推定値の真の推定値の使用に関するガイダンス*， 2017-04-01 更新するには
• ISO 23833 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA)、用語集*， 2013-04-01 更新するには
• ISO 24173:2009 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折を使用した指向性測定ガイド
• ISO/IEC 17025 試験および校正ラボの能力に関する一般要件*， 2017-11-29 更新するには

ISO 13067:2011 発売履歴

• 2020 ISO 13067:2020 マイクロビーム分析 - 電子後方散乱回折 - 平均粒径の測定
• 2011 ISO 13067:2011 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒径測定