VDI/VDE 2630 Blatt 1.2-2010
寸法測定におけるコンピュータ断層撮影 測定結果に影響を与える変数とコンピュータ断層撮影の寸法測定に関する推奨事項
- 規格番号
- VDI/VDE 2630 Blatt 1.2-2010
- 制定年
- 2010
- 出版団体
- Association of German Mechanical Engineers
- 状態
- 2016-12
- に置き換えられる
- VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2016
- 最新版
- VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2018
- 範囲
- このガイドラインでは、工業用コンピュータートモグラフィー (CT) による寸法測定の測定結果に対する典型的な影響について説明します。 さらに、さまざまな寸法測定タスクが分類されており、産業用 CT を使用して実現できます。 ガイドラインの付録には、CT による寸法測定の品質保証に関する推奨事項が記載されています。 検査対象のワークピースが空間に固定された軸の周りで回転するアキシャル CT システムのみが考慮されます。 回転は X 線撮影方向に対して直交して行われます。 X 線管とライン加速器を備えた産業用 CT 装置は、X 線の発生源とみなされます。 さらに、示された測定変数が有効である典型的な産業用 CT 装置の構造について説明します。 したがって、記述的な影響因子は、ファンビーム CT とコーンビーム CT の両方に有効です。
VDI/VDE 2630 Blatt 1.2-2010 発売履歴
- 2018 VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2018 寸法測定におけるコンピュータ断層撮影 - 測定結果に影響を与える変数とコンピュータ断層撮影の寸法測定に関する推奨事項
- 2016 VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2016 寸法測定におけるコンピュータ断層撮影 - 測定結果に影響を与える変数とコンピュータ断層撮影の寸法測定に関する推奨事項
- 2010 VDI/VDE 2630 Blatt 1.2-2010 寸法測定におけるコンピュータ断層撮影 測定結果に影響を与える変数とコンピュータ断層撮影の寸法測定に関する推奨事項
- 2008 VDI/VDE 2630 Blatt 1.2-2008 寸法測定におけるコンピュータ断層撮影 - 測定結果に影響を与える変数とコンピュータ断層撮影の寸法測定に関する推奨事項
