ISO 14701:2011
表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
- 規格番号
- ISO 14701:2011
- 制定年
- 2011
- 出版団体
- International Organization for Standardization (ISO)
- 状態
- に置き換えられる
- ISO 14701:2018
- 最新版
- ISO 14701:2018
ISO 14701:2011 発売履歴
- 2018 ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
- 2011 ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
