IEC 60749-30:2011
半導体デバイスの機械的および環境的試験 パート 30: 非気密表面実装機器の信頼性試験前のプレコンディショニング

規格番号

IEC 60749-30:2011

制定年

2011

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる 2011-08

に置き換えられる

IEC 60749-30:2005/AMD1:2011

最新版

IEC 60749-30:2020 RLV

IEC 60749-30:2011 発売履歴

• 0000 IEC 60749-30:2020 RLV
• 2011 IEC 60749-30:2005/AMD1:2011 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 30: 信頼性試験前の非気密表面実装機器のプレコンディショニング
• 2011 IEC 60749-30:2011 半導体デバイスの機械的および環境的試験 パート 30: 非気密表面実装機器の信頼性試験前のプレコンディショニング
• 2005 IEC 60749-30:2005 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 30: 信頼性試験前の非気密表面実装デバイスの事前試運転。