GB/T 12604.10-2011
非破壊検査用語 磁気メモリ検査 (英語版)

規格番号

GB/T 12604.10-2011

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2011

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2023-05

に置き換えられる

GB/T 12604.10-2023

最新版

GB/T 12604.10-2023

範囲

この規格は、金属磁気メモリ試験の用語と定義を定義します。 この規格は、磁気メモリのテスト、非破壊テスト、およびその他の関連分野に適用されます。

GB/T 12604.10-2011 発売履歴

• 2023 GB/T 12604.10-2023 非破壊検査用語パート 10: 磁気メモリ検査
• 2011 GB/T 12604.10-2011 非破壊検査用語 磁気メモリ検査

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