ASTM F1263-11
電子部品の放射線試験における過剰試験データの分析に関する標準ガイド
- 規格番号
- ASTM F1263-11
- 制定年
- 2011
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM F1263-11(2019)
- 最新版
- ASTM F1263-11(2019)
- 範囲
- 過剰テストは、(a) 時間とコストを考慮するか、故障に対する応力の確率分布を十分な精度で推定できないため、変数によるテストが現実的でない場合、および (b) 非現実的に多数の部品をテストする必要がある場合に実行する必要があります。 1.1 このガイドでは、所定の品質合格基準を満たすためにテストする必要がある部品の数を減らすためのオーバーテストの使用について説明します。 オーバーテストとは、必要なデータ取得量を減らすために、仕様ストレスよりも高いストレス レベルでサンプル数の部品をテストすることです。 このガイドでは、放射線ストレスにさらされた電子部品の生存に関する確率的推定を行うために、いつ、どのように過剰テストを適用できるかについて説明します。 部品の故障応力を支配する確率分布についてのある程度の知識は必要ですが、正確な知識はこの分布の過度に保守的な推定によって置き換えられる可能性があります。
ASTM F1263-11 発売履歴
- 2019 ASTM F1263-11(2019) 電子部品の放射線試験における明示的なデータの分析のための標準ガイド
- 2011 ASTM F1263-11 電子部品の放射線試験における過剰試験データの分析に関する標準ガイド
- 1999 ASTM F1263-99(2005) 電子部品の放射線試験における限界値を超えた試験データの解析
- 1999 ASTM F1263-99 電子部品の放射線試験における限界値を超えた試験データの解析
