EN 62374-1:2010
半導体デバイス パート 1: 金属層間の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) テスト [代替: CENELEC EN 62374]

規格番号

EN 62374-1:2010

制定年

2010

出版団体

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

最新版

EN 62374-1:2010

EN 62374-1:2010 発売履歴

• 2010 EN 62374-1:2010 半導体デバイス パート 1: 金属層間の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) テスト [代替: CENELEC EN 62374]