GB/T 13151-2005
半導体デバイス ディスクリート デバイス パート 6、サイリスタ パート 3 ブランク 100 A を超える電流、環境およびケース定格の逆阻止 3 極サイリスタの詳細仕様 (英語版)

規格番号

GB/T 13151-2005

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2005

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 13151-2005

交換する

GB/T 13151-1991

範囲

国際電気標準会議電子部品品質評価システム (IECQ) は、国際電気標準会議の規定に従い、国際電気標準会議の認可の下で機能します。 評価システムの目的は、ある加盟国が適用基準の要件に準拠してリリースした電子部品が、追加のテストを行わずに他のすべての加盟国でも受け入れられるように品質評価手順を定義することです。 このブランク詳細仕様書は、半導体デバイスに関する一連のブランク詳細仕様書の 1 つであり、以下の国家規格と併せて使用する必要があります。 ——GB/T 4589.1-1989 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、集積回路に関する一般仕様。 ——GB/T 12560-1999 半導体デバイスおよびディスクリートデバイスの個別仕様。

GB/T 13151-2005 発売履歴

• 2005 GB/T 13151-2005 半導体デバイス ディスクリート デバイス パート 6、サイリスタ パート 3 ブランク 100 A を超える電流、環境およびケース定格の逆阻止 3 極サイリスタの詳細仕様
• 1991 GB/T 13151-1991 100A 以上の周囲電流またはシェル定格逆阻止 3 極サイリスタの詳細仕様は空白です