BS EN 62374:2008
半導体デバイスのゲート絶縁膜の経時絶縁破壊 (TDDB) 試験

規格番号

BS EN 62374:2008

制定年

2008

出版団体

British Standards Institution (BSI)

状態

撤回

最新版

BS EN 62374:2008

交換する

04/30113827 DC-2004

BS EN 62374:2008 発売履歴

• 2008 BS EN 62374:2008 半導体デバイスのゲート絶縁膜の経時絶縁破壊 (TDDB) 試験
• 2008 BS EN 62374:2007 半導体デバイス、ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験