JIS H 7805:2005
X線回折装置を用いた金属結晶の粒径測定方法

規格番号

JIS H 7805:2005

制定年

2005

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS H 7805:2005

範囲

この規格は，X線回折法による担持金属解媒などの金属触媒の結晶子径測定方法について規定する。この規格は，結晶子径2nm以上100nm以下で，金属含有量が1%以上の試料に適用する。

JIS H 7805:2005 発売履歴

• 2005 JIS H 7805:2005 X線回折装置を用いた金属結晶の粒径測定方法