GOST 26239.1-1984
半導体シリコンおよびその初期製品と石英の不純物判定方法

規格番号

GOST 26239.1-1984

制定年

1984

出版団体

RU-GOST R

最新版

GOST 26239.1-1984

GOST 26239.1-1984 規範的参照

• GOST 123-1978 コバルト仕様
• GOST 1277-1975 試薬 硝酸銀 仕様
• GOST 1467-1977 カドミウムの技術的条件
• GOST 3118-1977 試薬 塩酸 仕様
• GOST 3640-1979 亜鉛の技術的条件
• GOST 3778-1977 リード技術条件
• GOST 4331-1978 黒色酸化ニッケル。 技術的条件
• GOST 4461-1977 試薬 硝酸 仕様
• GOST 4526-1975 試薬 酸化マグネシウム 仕様
• GOST 4530-1976 試薬 炭酸カルシウム 仕様
• GOST 5905-1979 金属はんだ付け技術条件
• GOST 6835-1980 金および金合金。 マーク*， 2001-01-01 更新するには
• GOST 6836-1980 銀および銀合金。 マーク
• GOST 804-1972 マグネシウム原石の技術条件
• GOST 849-1970 一次ニッケル仕様
• GOST 859-1978 ブロンズ番号

GOST 26239.1-1984 発売履歴

• 1984 GOST 26239.1-1984 半導体シリコンおよびその初期製品と石英の不純物判定方法