ISO 15529:2010
光学とフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理

規格番号

ISO 15529:2010

制定年

2010

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

最新版

ISO 15529:2010

範囲

この国際規格は、サンプリングされたイメージング システムに関連する主要な MTF を関連用語とともに指定し、これらの MTF を測定するためのいくつかの適切な技術の概要を説明します。 また、このようなシステムでのイメージングに関連する「エイリアシング」の対策も定義します。 この国際規格は、デジタル スチル カメラやビデオ カメラなどの電子画像デバイスと、それらが具体化する検出器アレイに特に関連します。 多数の MTF 測定手法が説明されていますが、正しいパラメータを測定し、ISO 9334 および ISO 9335 に規定されている MTF 測定の一般的な定義とガイドラインを満たしている限り、他の手法を排除することは意図していません。 線像分布関数 (LSF) ではなくエッジ像分布関数の値は、イメージング システムの OTF/MTF を決定するための代替の開始点として特に注目されています。

ISO 15529:2010 規範的参照

• ISO 11421 光学素子および光学機器における光学伝達関数 (OTF) 測定の精度
• ISO 9334 光学とフォトニクス、光の伝達関数、定義と数学的関係*， 2012-10-01 更新するには
• ISO 9335 光学および光学機器、光の伝達関数、測定の原理と手順*， 2012-10-01 更新するには

ISO 15529:2010 発売履歴

• 2010 ISO 15529:2010 光学とフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• 2007 ISO 15529:2007 光学とフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• 1999 ISO 15529:1999 光学および光学機器 光伝達関数 イメージングシステム 変調伝達関数の測定原理