ASTM E1588-10e1
走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
- 規格番号
- ASTM E1588-10e1
- 制定年
- 2010
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM E1588-16
- 最新版
- ASTM E1588-20
- 範囲
- この文書は、SEM/EDS による GSR サンプルの分析に携わる法医学研究所の職員にとって役立ちます (4)。 GSR の SEM/EDS 分析は、個々の粒子の形態学的情報と元素プロファイルの両方を提供する非破壊的な方法です (5, 6)。 粒子分析は、原子吸光分光分析法 (AAS) (7)、中性子放射化分析 (NAA) (8)、誘導結合プラズマ原子発光分析法 (ICP-AES)、誘導結合プラズマ質量分析法 (ICP) などのバルクサンプル法とは対照的です。 -MS) では、総元素濃度を決定する前にサンプリングされた材料が溶解または抽出されるため、形態学的情報と個々の粒子の識別が犠牲になります。 蛍光 X 線分光分析 (XRF) は、射撃距離を確立するために弾痕の周囲の GSR 粒子の配置と分布をマッピングするために使用されている技術です (9)。 溶液ベースのバルク分析法とは異なり、XRF は非破壊的です。 ただし、XRF はまだ形態学的情報を提供しておらず、個々の GSR 粒子を識別することはできません。 1.1 このガイドでは、手動および手動による走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析法 (SEM/EDS) による銃撃残渣 (GSR) の分析について説明します。 自動化された方法。 分析は、オペレーターが顕微鏡制御装置と EDS システム ソフトウェアを操作して手動で実行することも、分析の一部が事前設定されたソフトウェア機能によって制御される自動化された方法で実行することもできます。 1.2 ソフトウェアとハードウェアの形式は商用システムによって異なるため、ガイドラインは可能な限り最も一般的な用語で提供されます。 適切な用語と操作については、各システムの SEM/EDS システム マニュアルを参照してください。 1.3 SI 単位で記載された値は標準とみなされます。 この規格には他の測定単位は含まれません。 1.4 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM E1588-10e1 発売履歴
- 2020 ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
- 2017 ASTM E1588-17 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
- 2016 ASTM E1588-16a 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
- 2016 ASTM E1588-16 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析による撮影残渣分析の標準ガイド
- 2010 ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
- 2010 ASTM E1588-10 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
- 2008 ASTM E1588-08 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
- 2007 ASTM E1588-07e1 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
- 2007 ASTM E1588-07 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
- 2001 ASTM E1588-95(2001) 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
- 2001 ASTM E1588-95 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
