JIS C 2162:2010
SiCデバイス用ゲート絶縁膜の高温における長期信頼性試験方法

規格番号

JIS C 2162:2010

制定年

2010

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS C 2162:2010

JIS C 2162:2010 発売履歴

• 2010 JIS C 2162:2010 SiCデバイス用ゲート絶縁膜の高温における長期信頼性試験方法