BS QC 750100:1986+A2:1996
電子部品の品質評価連携体制 ディスクリート半導体デバイスの断面仕様

規格番号

BS QC 750100:1986+A2:1996

制定年

1986

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

BS QC 750100:1986+A2:1996

交換する

BS QC 750100:1986

範囲

このセクション仕様は、光電子デバイスを除く個別の半導体デバイスに適用されます。

BS QC 750100:1986+A2:1996 発売履歴

• 1986 BS QC 750100:1986+A2:1996 電子部品の品質評価連携体制 ディスクリート半導体デバイスの断面仕様
• 0000 BS QC 750100:1986