IEC 62150-4:2009
光ファイバーのアクティブコンポーネントおよびデバイス テストおよび測定手順 パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズの検出

規格番号

IEC 62150-4:2009

制定年

2009

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 62150-4:2009

交換する

IEC 86C/918/FDIS:2009

範囲

IEC 62150 のこの部分では、相対強度雑音 (RIN) のテストおよび測定手順を指定します。 これは、レーザー@レーザー送信機@およびトランシーバーの送信機部分に適用されます。 この手順では、デバイスまたはモジュールが適切な性能仕様を満たしているかどうかを検査します。 この手順は、単一縦モード (SLM) に適用できます。 手順のオプションのセクションでは、制御されたリターンロスをテスト対象デバイス@に提示しますが、これは SMF に接続されたデバイスにのみ適用されます。 この規格に記載されている時間領域検出システム @ を使用する方法は、送信帯域幅全体のノイズを平均する RIN の単一値を提供します。 測定は、通常の動作条件下で RIN 値を取得する変調レーザーで行われます。 また、IEEE 802.3-2005 に記載されている代替定義である RINOMA@ も測定します。 代替の RIN 測定方法では、受光器と電気スペクトル アナライザを使用し、電気周波数に対する RIN を求めます。 この方法では、フィルターによって決定される特定の電気帯域にわたって平均化された RIN 値が得られます。 送信システムのフィルタリングを再現するフィルタ帯域幅と特性の場合、この技術は、そのようなシステムのノイズを決定するのに適切な結果を提供します。 この方法は、熱ノイズとショット ノイズの影響を含む総強度ノイズの測定に基づいており、その影響を差し引くことを試みています。 レーザー強度ノイズの背景は付録 A に記載されています。

IEC 62150-4:2009 発売履歴

• 2009 IEC 62150-4:2009 光ファイバーのアクティブコンポーネントおよびデバイス テストおよび測定手順 パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズの検出