BS ISO 24173:2009
マイクロビーム解析、後方散乱電子回折を使用した方位角測定の基準

規格番号
BS ISO 24173:2009
制定年
2009
出版団体
British Standards Institution (BSI)
状態
 2024-02
に置き換えられる
BS ISO 24173:2024
最新版
BS ISO 24173:2024
交換する
08/30133935 DC:2008

BS ISO 24173:2009 発売履歴

  • 2024 BS ISO 24173:2024 マイクロビーム分析。 後方散乱電子回折を用いた配向測定のガイドライン
  • 2009 BS ISO 24173:2009 マイクロビーム解析、後方散乱電子回折を使用した方位角測定の基準
マイクロビーム解析、後方散乱電子回折を使用した方位角測定の基準



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