BS EN 60749-33:2004
半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 加速耐湿性 不偏オートクレーブ

規格番号

BS EN 60749-33:2004

制定年

2004

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

BS EN 60749-33:2004

交換する

02/206197 DC-2002

範囲

不偏オートクレーブ試験は、結露または湿気が飽和した蒸気環境を使用して、非密閉パッケージのソリッドステート デバイスの耐湿性の完全性を評価するために実行されます。 これは、結露条件下での圧力、湿度、温度の条件を使用して、外部保護材 (封止材またはシール) を通過する、または外部保護材とそれを通過する金属導体間の界面に沿った水分の浸透を促進する、高度に加速された試験です。 このテストは、パッケージ内部の障害メカニズムを特定するために使用され、破壊的です。

BS EN 60749-33:2004 発売履歴

• 2004 BS EN 60749-33:2004 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 加速耐湿性 不偏オートクレーブ