この国際規格は、磁性または非磁性基板上の電着ニッケル皮膜の厚さを非破壊で測定するために、磁気タイプの皮膜厚さ計を使用する方法を規定しています。
この方法は、化学組成によっては自己触媒性 (無電解) ニッケル コーティングには適用できない場合があります。
この国際規格では、次の 2 つのタイプのニッケル コーティングが区別されます。
a) 磁性基板上のニッケル コーティング (タイプ A コーティング)。
b) 非磁性基板上のニッケルコーティング (タイプ B コーティング)。
すべての機器が両方のタイプのコーティングに適用できると想定すべきではありません。
磁気引力の原理を使用する機器の有効測定範囲は、タイプ A コーティングの場合は最大 50 μm、タイプ B コーティングの場合は最大 25 [irr\] です。
磁気抵抗の原理を使用する機器の場合、有効範囲ははるかに広く、両方のタイプのコーティングで最大 1 mm 以上の測定を行うことができます。